produktbeskrivelse
Silisiumkarbid (SiC) wafere og substrater er spesialiserte materialer som brukes i halvlederteknologi laget av silisiumkarbid, en forbindelse kjent for sin høye termiske ledningsevne, utmerkede mekaniske styrke og brede båndgap. Eksepsjonelt harde og lette, SiC-skiver og -substrater gir et robust grunnlag for fremstilling av høyeffekts, høyfrekvente elektroniske enheter, for eksempel kraftelektronikk og radiofrekvenskomponenter.
Silisiumkarbidwafers unike egenskaper gjør dem ideelle for applikasjoner som krever høytemperaturdrift, tøffe miljøer og forbedret energieffektivitet.
Sammenlignet med konvensjonelle Si-enheter, har SiC-baserte kraftenheter raskere svitsjhastigheter, høyere spenninger, lavere parasittiske motstander, mindre størrelser og mindre kjøling som kreves på grunn av høye temperaturer.

Våre silisiumkarbidskiver er tilgjengelige i et bredt spekter av størrelser og spesifikasjoner, slik at våre kunder kan velge det beste alternativet for deres spesifikke behov. Vi tilbyr både nakne wafere og epitaksiale wafere, og vi kan tilpasse produktene våre for å møte kravene til ethvert prosjekt.
Hos SiBranch er vi forpliktet til å gi våre kunder det høyeste nivået av service og støtte. Vårt team av eksperter er alltid tilgjengelig for å svare på spørsmål og gi veiledning om de beste produktene og løsningene for ditt prosjekt. SiBranch tilbyr et bredt spekter av produkter og tjenester for å møte de ulike behovene til våre kunder. Kontakt oss i dag for å lære mer om produktene våre og hvordan vi kan hjelpe deg med å nå dine mål.
|
4H N-TYPE SiC 100 MM, 350μm WAFER SPESIFIKASJON |
|||
|
Artikkel nummer |
W4H100N-4-PO (eller CO)-350 |
||
|
Beskrivelse |
4H SiC-substrat |
||
|
Polytype |
4H |
||
|
Diameter |
(100+0.0-0.5) mm |
||
|
Tykkelse |
(350±25) μm (ingeniørgrad ±50μm) |
||
|
Transportørtype |
n-type |
||
|
Dopant |
Nitrogen |
||
|
Resistivitet (RT) |
0.012-0.025Ω▪cm (ingeniørkarakter<0.025Ω▪cm) |
||
|
Wafer Orientering |
(4+0.5) grad |
||
|
Ingeniørkarakter |
Produksjonsgrad |
Produksjonsgrad |
|
|
2.1 |
2.2 |
2.3 |
|
|
Mikrorørtetthet |
Mindre enn eller lik 30 cm-² |
Mindre enn eller lik 10 cm-² |
Mindre enn eller lik 1 cm-² |
|
Mikropipe Fritt område |
Ikke spesifisert |
Større enn eller lik 96 % |
Større enn eller lik 96 % |
|
Orienteringsleilighet (OF) |
|
||
|
Orientering |
Parallelt {1-100} ±5 grader |
||
|
Orientering flat lengde |
(32,5±2.0) mm |
||
|
identifikasjonsleilighet (IF) |
|
||
|
Orientering |
Sideflate: 90 grader cw, fra orientering flat ±5 grader |
||
|
ldentifikasjon flat lengde |
(18.0+2.0) mm
|
||
|
Flate |
Alternativ 1: Si-face standard polish Epi-ready C-face optisk polish |
||
|
Alternativ 2: Si-face CMP Epi-ready, C-face optisk polering |
|||
|
Pakke |
Forsendelsesboks med flere oblater (25). |
||
|
(Enkelt oblatpakke på forespørsel) |
|||
|
6H N-TYPE SiC, 2" WAFER SPESIFIKASJON |
|
|
Artikkel nummer |
W6H51N-0-PM-250-S |
|
Beskrivelse |
Produksjonsgrad 6H SiC-substrat |
|
Polytype |
6H |
|
Diameter |
(50,8±38) mm |
|
Tykkelse |
(250±25) um |
|
Transportørtype |
n-type |
|
Dopant |
Nitrogen |
|
Resistivitet (RT) |
0.06-0.10Ω▪cm |
|
Wafer Orientering |
(0+0.5) grad |
|
Mikrorørtetthet |
Mindre enn eller lik 100 cm-² |
|
Orientering flat orientering |
Parallell {1-100} ±5 grader |
|
Orientering flat lengde |
(15,88±1,65) mm |
|
Identifikasjon flat orientering |
Si-ansikt: 90 grader cw. rynkeretning flat ±5 grader |
|
ldentifikasjon flat lengde |
(8+1.65) mm |
|
Flate |
Si-face standard polish Epi-ready |
|
C-ansikt mattet |
|
|
Pakke |
Pakke enkelt wafer pakke eller flere wafer frakteske |
Produktbilde

Silisiumkarbid (SiC) wafere er en type halvledermateriale som brukes i produksjon av elektroniske og optoelektroniske enheter som krever høy temperatur, høy spenning og høyfrekvent drift. SiC er et halvledermateriale med bred båndgap, noe som betyr at det har høyere gjennombruddsspenning og kan operere ved høyere temperaturer enn konvensjonelle halvledere som silisium.
SiC-skiver produseres vanligvis ved å bruke metodene fysisk damptransport (PVT) eller kjemisk dampavsetning (CVD). I PVT-metoden plasseres en frøkrystall av SiC i en høytemperaturovn og et kildemateriale, typisk silisium eller karbon, varmes opp til det fordamper. Dampen transporteres av en bæregass, typisk argon, og avsettes på frøkrystallen, og danner et enkelt krystall SiC-lag. I CVD-metoden avsettes et SiC-lag på et substrat ved å reagere en gassblanding som inneholder silisium og karbonforløpere ved høye temperaturer.
Når SiC-krystallen er dyrket, blir den skåret i tynne skiver og polert til en høy grad av flathet og glatthet. De resulterende SiC-platene kan deretter brukes som en plattform for vekst av ytterligere halvlederlag, som kan dopes med urenheter for å lage p-type og n-type regioner for enhetsfabrikasjon.
SiC-skiver har flere fordeler i forhold til andre halvledermaterialer som silisium. SiC har en høyere varmeledningsevne, noe som betyr at den kan operere ved høyere temperaturer uten å lide av termisk sammenbrudd. I tillegg har SiC en høyere sammenbruddsspenning og kan operere ved høyere spenninger og frekvenser enn silisium, noe som gjør den egnet for applikasjoner som høyeffektelektronikk og høyfrekvente enheter.
Grav dypere inn i SiC Wafers egenskaper
Den unike elektroniske båndstrukturen til SiC-skiver er nøkkelen til deres eksepsjonelle egenskaper. Et stort båndgap skaper en høy hindring for elektroner å overvinne, noe som resulterer i to viktige fordeler:
Høy temperatur stabilitet:Lave indre bærerkonsentrasjoner betyr at SiC-enheter kan fungere ved høye temperaturer uten betydelige lekkasjestrømmer, ideelt for krevende miljøer.
Elektrisk felt med høy sammenbrudd:Det brede båndgapet bidrar også til en sterk evne til å motstå høye spenninger, noe som gir mulighet for enheter med høy blokkeringsspenning og lav motstand i tilstanden.
Utover elektriske egenskaper utmerker SiC-skiver seg også i termiske og mekaniske aspekter.
Effektiv varmespredning:Den eksepsjonelle termiske ledningsevnen gjør at SiC effektivt sprer varme, en kritisk funksjon for høyeffektapplikasjoner.
Holdbarhet i tøffe miljøer:Høy mekanisk styrke og hardhet gjør SiC motstandsdyktig mot slitasje, egnet for krevende miljøer.
SiC kommer i forskjellige former kalt polytyper, kjennetegnet ved stablingsarrangementet av silisium og karbonatomer. Blant disse er 4H-SiC og 6H-SiC mest fremtredende innen elektronikk.
4H-SiC:Foretrukket for kraftelektronikk på grunn av dens overlegne elektronmobilitet og bredere båndgap, noe som gir høyere effektivitet og ytelse.
6H-SiC:Finner applikasjoner i høytemperatur- og høyfrekvente enheter på grunn av sin høyere hullmobilitet og litt smalere båndgap.
Valget av polytype avhenger av den spesifikke applikasjonens behov. Faktorer som ønskede elektriske egenskaper, driftsforhold og målrettet enhetsytelse spiller alle en rolle i valg av den optimale SiC-wafertypen.
hvorfor velge oss
Produktene våre er utelukkende hentet fra verdens fem beste produsenter og ledende innenlandske fabrikker. Støttet av svært dyktige nasjonale og internasjonale tekniske team og strenge kvalitetskontrolltiltak.
Vårt mål er å gi kundene omfattende en-til-en-støtte, og sikre jevne kommunikasjonskanaler som er profesjonelle, tidsriktige og effektive. Vi tilbyr en lav minimumsbestillingsmengde og garanterer rask levering innen 24 timer.
Fabrikkutstilling
Vårt store lager består av 1000+ produkter, noe som sikrer at kunder kan legge inn bestillinger for så lite som ett stykke. Vårt selveide utstyr for terninger og baksliping, og fullt samarbeid i den globale industrikjeden gjør oss i stand til å sende raskt for å sikre kundetilfredshet og bekvemmelighet.



Vårt sertifikat
Vårt firma er stolt av de forskjellige sertifiseringene vi har oppnådd, inkludert vårt patentsertifikat, ISO9001-sertifikat og National High-Tech Enterprise-sertifikat. Disse sertifiseringene representerer vår dedikasjon til innovasjon, kvalitetsstyring og forpliktelse til fortreffelighet.
Populære tags: sic wafer, Kina sic wafer produsenter, leverandører, fabrikk





























